MICROTECH MX58-RF/BD/RF-DIC/BD-DIC 金相顯微鏡-明視野/暗視野/明場DIC/暗場DIC-微分干涉型/原廠保固一年
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MX58-RF:2241200042、MX58-RF-DIC:2241200223、MX58-BD:2241200043和MX58-BD-DIC:2241200044
工業研發利器
MICROTECH MX58-BD暗視場金相顯微鏡適用於半導體、面板、PCB、材料、電子、微加工、金屬、電鍍、寶石、礦物等產業,無限遠平行光學系統可清晰觀察物體的表面的微結構,有效提升高倍的解析能力。模組化的光學總成機構,適合改裝於工作機台,可彈性依據觀察物件厚度調節鏡頭高度,品質優異,相容性高,上宸光學工程部並提供各種改裝升級技術支援。
大視野雙目觀測筒
採用雙目觀測筒,可調節視差、兩側瞳孔距離與高度。採用廣視野目鏡搭配高階無限遠平行光學,視野寬廣舒適,適合長時間觀測。
第三目影像接管
上方建第三目影像接管,可搭配顯微攝錄機,透過觀測頭左側拉桿可控制光路,切換目視與影像輸出。
DIC微分干涉對比觀測 (限DIC機種)
MICROTECH MX58 金相顯微鏡備有,具備 Nomarski DIC微分干涉對比觀測功能之機型,可觀察樣本表面的細緻紋理。該方法對落射照明光源進行偏振處理,使用專用棱鏡將光分成兩個單獨的光束,在經過觀測樣本反射後重新組合返回的光,使彼此產生干涉。此種光學設計可大大提升物件表面在影像中呈現的對比度,亦可對明或低對比度的物體進行觀察。
DIC微分干涉對比觀測樣品分享
8吋大型透光微動載台
載物台尺寸204x204mm,X-Y微動行程204x204mm,可完整承載6吋及8吋晶圓。底部配備透射光源,可觀測可透光樣本,或觀測樣品孔洞。
內建偏光模組
觀測頭右側可控制偏光,偏折落射光源角度,檢視樣品表面對於些微光線角度改變的反應。
照明控制
位於顯微鏡底座的左側可控制透射與落射光源的開關以及光源強度。觀測頭上方的轉盤,內建濾光片可改變落射光的顏色,亦可調整光圈、光源焦點與視野大小。暗視野功能機型可由左方播桿切換明暗視野。
全金屬鑄造機身 穩固可靠
機身採用金屬鑄造製成,機體穩固、結構可靠。