*無限遠平行光學系統，兼顧影像品質與系統擴充
*同軸落射光與透射光，因應不同材質
*50X~500X標準倍率，涵蓋定位到細節檢查
*22mm廣視野目鏡，提升樣品搜尋效率
*平場長工作距離金相物鏡，降低碰撞風險
*附落射光偏光裝置可觀察具偏光特性的樣本
*第三目可銜接攝錄機，搭配軟體可量測

無限遠光學  工業檢測  精準把關

MICROTECH MX53-RF-B 是一款採用無限遠平行光學系統的三目正立金相顯微鏡，具備同軸落射光與透射光兩種獨立照明模式，標準觀察倍率為 50X～500X。同軸落射光適合觀察金屬、晶圓、PCB、電子元件及電鍍表面等不透明樣品；透射光則能應對透明或半透明材料。相較於傳統有限遠光學架構，無限遠光學系統不僅著重高倍率下的影像解析表現，也為顯微攝影及後續系統升級保留更好的整合彈性。
無論是材料分析、半導體與電子產業、精密加工、品保檢測，或大專院校教學研究，MX53-RF-B 都能提供兼顧目視觀察、影像紀錄與未來擴充的金相觀察平台。

無限遠平行光學系統

MX53-RF-B 採用無限遠平行光學系統，搭配無限遠平場長工作距離物鏡，可清楚呈現材料表面的微細結構，並強化高倍率觀察時的解析能力。無限遠光學的價值不僅是「看得清楚」，更在於提供較好的系統整合與升級空間。對於日後可能加入顯微攝影、影像分析或其他光學模組的實驗室及企業使用者而言，可降低整套設備因需求成長而必須重新更換的機會。

透射/同軸落射雙光路｜透明與不透明樣品皆可觀察

MX53-RF-B 配備兩套獨立照明系統：5W LED 同軸落射光源及3W LED 透射光源。

同軸落射光由物鏡方向照射樣品表面，適合金屬、晶圓、IC、PCB、電鍍層及精密零件等不透明材料；透射光則由樣品下方照明，適合透明、半透明薄片或可透光材料。兩種照明模式可透過電源切換開關快速變換。

內建視場光欄、孔徑光欄(可提高景深對比)、五孔濾光片轉換裝置(黃、藍 、綠、霧白、空白玻璃，用以改變色溫)，推拉式起偏振裝置(具有簡易偏光效果)。透射光具備內建視場光欄的集光器，及NA1.25附可調光欄的阿貝式聚光鏡。

50X～500X 放大倍率｜從快速定位到微細結構判讀

平場長工作距離物鏡｜視野平坦，操作更安全

MX53-RF-B 配置PLL系列無限遠平場長工作距離物鏡。平場設計可改善視野邊緣失焦，使中央與周邊區域呈現較一致的清晰度，特別適合金相攝影、影像比對及大範圍表面檢查。較長的工作距離能在物鏡與樣品之間保留更多安全空間，觀察表面略有高低差的工件或移動樣品時，可降低物鏡碰觸樣品的風險。
標準配置包含 5X、10X、20X、50X 四顆金相物鏡，搭配 WF10X 目鏡，提供 50X、100X、200X、500X 四段總放大倍率。五孔內傾式鼻輪仍保留一個物鏡安裝位置，方便依實際需求規劃後續配置；建議於選購前來電與客服人員確認。

22 mm廣視野觀察｜加快搜尋與比較效率

WF10X 目鏡具備 Φ22 mm視場數，可提供較寬廣的觀察範圍。低倍率下能更快搜尋目標區域，在晶圓、PCB、金屬試片及較大面積零件檢查時，可減少頻繁移動載物台的操作。三目觀測頭採 30°傾斜設計，瞳距可於 53～75 mm 之間調整，並提供左眼 ±5 屈光度調整，方便不同使用者依視力與眼距調整觀察狀態。

精密機械載物台｜穩定追蹤樣品位置

雙層機械移動式載物台尺寸為 210 × 140 mm，移動範圍達 75 × 50 mm，可透過控制旋鈕平穩移動樣品。粗微動同軸調焦系統具鎖緊與限位裝置，微調精度為 2 μm，有助於高倍率觀察時精準掌握焦平面，同時降低物鏡因過度下降而碰撞樣品的風險。

偏光觀察功能｜提升特定材料的判讀能力

MX53-RF-B 配備偏光系統，可應用於具有方向性、反射差異或偏光特性的樣品。透過偏光條件調整，有機會提升部分礦物、晶體、金屬組織及材料結構的影像對比。

三目分光設計  輕鬆串接攝錄機

MX53-RF-B 配備三目觀測頭，除了雙眼目視觀察，也可依需求加購顯微攝錄機。第三目以拉桿100%切換光路，這意味著在進行數位拍照或錄影時，光路能完整導向攝錄機感光元件，確保獲得最高解析度的圖像。可安裝 MICROTECH 顯微攝影系統，具有微電腦平台，可HDMI直出影像、USB滑鼠直接控制、嵌入式完整拍攝功能與量測，絕佳的免電腦顯微鏡影像解決方案。可選購的攝錄機如下：
M2-4K
U4-Plus AF自動對焦攝錄機
U8s-Plus HDMI-4K 研究級攝錄機

適用領域/推薦使用者

電子產業與PCB檢查
工業零件外觀檢測
QC/QA品質管理
生產線與維修工作站
顯微鏡影像系統整合
學校自然科與實驗教學
研究室即時影像展示
設備製造商與系統整合商

適合觀察什麼

依搭配的鏡頭、顯微鏡、倍率及照明設備不同，可應用於：
PCB電路板與焊點外觀檢查
IC、連接器及電子零件觀察
金屬零件表面、刮痕與加工狀況確認
塑膠件、模具及機械零件外觀檢查
印刷品、標籤、纖維與材料表面觀察
顯微鏡即時影像輸出
生產線人工目視檢查
教室、實驗室及教育訓練影像展示

FAQ 常見問題

1. MX53-RF-B 和 M835-LED 最大的差異是什麼？

MX53-RF-B 採用無限遠平行光學系統，這是兩款機型最重要的定位差異。無限遠光學除了著重高倍率下的成像與解析表現，也較適合需要顯微攝影、系統整合及後續升級的使用者。

M835-LED 偏向兼顧預算與一般金相檢查；MX53-RF-B 則適合對影像品質、光學架構及擴充能力有較高要求的研發、品管與研究單位。

2. 什麼是無限遠光學系統？

無限遠光學系統會先讓物鏡形成平行光束，再經鏡筒透鏡形成影像。此架構有利於進行光學模組整合，也是許多研究及專業顯微鏡採用的設計。

3. 金相顯微鏡和一般生物顯微鏡有什麼不同？

一般生物顯微鏡主要使用下方透射光觀察薄而透明的標本；金相顯微鏡可利用同軸落射光，由物鏡方向照亮金屬、晶圓、PCB等不透明樣品的表面。MX53-RF-B 同時具備落射與透射光路，因此比單一透射光顯微鏡能因應更多材料種類。

4. MX53-RF-B 可以觀察未拋光的金屬零件嗎？

可以進行表面刮傷、加工紋路、孔洞或污染等外觀檢查。但若要判讀金屬晶粒、相組成或內部金相組織，通常仍須經過切割、鑲埋、研磨、拋光及適當蝕刻。

5. 50X～500X 適合哪些檢查？

50X 適合快速搜尋與觀察較大範圍；100X～200X 可用於加工紋路、鍍層及一般缺陷檢查；500X 則適合進一步觀察金相組織與微細表面結構。應依樣品尺寸及待判讀特徵選擇倍率，而不是單純追求最高倍率。

6. 可以加裝顯微鏡相機嗎？

可以。三目觀測頭可搭配適合的顯微攝錄機與攝影轉接器，進行拍照、錄影、螢幕顯示或電腦影像處理。選配前應確認攝錄機接口、感光元件尺寸、影像輸出方式及視野需求。

7. 可以進行量測嗎？

加購相容的顯微攝錄機與量測軟體後，可進行影像量測。正式量測前必須使用載物台測微尺，針對每一顆物鏡完成倍率校正；若涉及製程判定或品保標準，也應建立固定的校正及操作程序。

8. 偏光系統可以觀察哪些樣品？

偏光觀察可用於提升部分礦物、晶體、金屬組織及具有方向性材料的影像對比。但不同樣品的反應差異很大，若涉及專業岩相或完整偏光分析，建議先確認本機偏光配置是否符合分析標準，或購買偏光專用的顯微鏡。

9. 工業品管應該選目視觀察還是數位攝影？

若工作只需快速檢查，目視觀察即可；若需要瑕疵留存、跨部門溝通、檢驗報告、尺寸量測或教育展示，建議加購攝錄機。選擇相機時，不應只比較畫素，也需評估視野、幀率、色彩、介面及軟體功能。

商品規格

型號	MICROTECH MX53 RF-B
商品貨號	2241200276
光學系統	無限遠平行光學，具同軸落射光路，透射光路
倍率	50 - 500x
觀測頭	三目觀測頭，30度傾斜，瞳距調節範圍53~75mm，視差調整±5屈光度（左眼）
目鏡	WF10X（視場數 Φ22mm）
物鏡	RF-PLL5X/0.12,∞/0,工作距離WD=26.1mm RF-PLL10X/0.25,∞/0,工作距離WD=20.2mm RF-PLL20X/0.40,∞/0,工作距離WD=8.8mm RF-PLL50X/0.70,∞/0,工作距離WD=3.68mm
鼻輪	五孔內傾式
調焦系統	粗微動同軸調焦，帶鎖緊和限位裝置，微動格：2μm
載物台	雙層機械移動式載物台，外形尺寸210mmX140mm，移動範圍：75mm X 50mm
透射光源	3W LED
落射光源	5W LED
偏光系統	有
電源	AC 110 - 240V 3A
外觀尺寸	526x250x280mm
保固	一年

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