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MICROTECH MX53-PHD 金相-相位差顯微鏡

Order number

RR00120

金相結合相位差的高階選擇

MICROTECH MX53-PHD 是一款專為先進材料研究與精密工業檢測打造的高階金相顯微鏡。它在 MX53 優異的光學基礎上,導入專業的相位差光學套件,填補了傳統透射光源難以觀察的透明或極微小高度差樣本的技術缺口。本產品定位於薄膜研究、高分子聚合物、半導體透明鍍層及生物材料分析,能為研發人員提供更深層次的表面形貌資訊,亦是金屬學、礦物學、精密工程學、電子學等工業領域及研究領域的理想設備。

樣本總是「白茫茫」一片?
別讓透明細節成為您科研論文的死角!
透射光結合相位差機構  免染色還原透明結構

MX53-PHD是採用高階無限遠光學系統的透射/落射式正置金相顯微鏡,透射與同軸落射獨立照明,能透過電源切換開關快速變換。其透射核心的相位差機構能使透明樣本在無需化學蝕刻或染色情況下,呈現出層次分明的高對比圖像,極為適合觀察透明薄膜、聚合物顆粒、透明塑膠薄膜、乳膠分散液或玻璃纖維的細微結構等等。

同軸落射光  打造無影均勻成像

MX53-PHD是採用高階無限遠光學系統的透射/落射式正置金相顯微鏡,透射與同軸落射獨立照明,能透過電源切換開關快速變換。其透射核心的相位差機構能使透明樣本在無需化學蝕刻或染色情況下,呈現出層次分明的高對比圖像,極為適合觀察透明薄膜、聚合物顆粒、透明塑膠薄膜、乳膠分散液或玻璃纖維的細微結構等等。

上下兼備 高剛性抗震結構  極致精準操控體驗

MX53-PHD展現了工業美學與實用性的完美結合。上方的落射光路內建濾鏡轉盤可改變落射光的顏色,亦可調整光圈與視野大小;右側有可控制偏光裝置,檢視樣品表面對偏光角度改變的反應。底座左側有切換透射光源與落射光源的開關,右側有調整光源強度的轉盤。
安裝攝錄機時,光路可從目視100%切換至攝錄機,能提高攝錄機快門速度與幀數、能降低增益、減少雜訊,有助於低反射或低穿透性樣本的拍攝。
機身採用重型鑄鐵底座,具備卓越的抗震性能,確保高倍率下的影像穩定性。其機械移動平台配備精密微調旋鈕,操作手感流暢且精準;人體工學的傾斜觀察頭與低手位控制設計,有效降低檢測人員的負擔,非常適合產線高頻率檢測使用。

加購攝錄機

採用 MICROTECH 顯微攝影系統,具有微電腦平台,可HDMI直出影像、USB滑鼠直接控制、嵌入式完整拍攝功能與量測,絕佳的免電腦顯微鏡影像解決方案。本產品可加購的攝錄機如下:
M2-4K HDMI攝錄機
U8s-Plus HDMI-4K研究級攝錄機
U4-Plus-AF 自動對焦攝錄機

如需了解更多應用建議、搭配放大倍率、或購買配件,歡迎與我們聯繫,我們提供專業諮詢與實機展示服務。

📍歡迎帶樣品來台北或竹北門市現場測試

📞 客服專線:02-2521-1972(台北)|03-656-6306(新竹)

 

光學系統 無限遠平行光學,具同軸落射光路/透射光路
倍率 40~1000x
觀測頭
三目觀測頭(第三目100%分光),30度傾斜,瞳距調節範圍55-75mm,左眼視差調整±5屈光度
目鏡
WF10X/視野22mm
物鏡
E-Plan 4X/0.10。 E-Plan 10X Ph/0.25(相位差)。 E-Plan 40X Ph/0.65(相位差)。 E-Plan 100X Ph/1.25 Oil(相位差)。
鼻輪
五孔內傾式
調焦系統
粗微動同軸調焦,帶鎖緊和限位裝置,微動格:2μm
載物台
雙層機械移動式載物台,外形尺寸185mmX140mm,移動範圍:75mm X 50mm
聚光鏡
內含相位差聚光鏡
光圈 內含
偏光系統 有,位於反射光光路內,可切換
落射光源 5W LED
透射光源
3W LED光源
電源 AC 110~240V 3A
外觀尺寸
寬230 X 深480 X 高515mm
重量 7kg
電源供應 DC12V 3A
外觀尺寸 寬230 X 深480 X 高515mm
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